寒假光驱厂实习报告

　　5）改善前后之比较时：

　　a改善后，横轴项目别依照出现大小顺序由高而低排列。

　　b前后比较基准须一致，且刻度应相同，则更易于比较。

　　4、管制图：

　　（1）何为管制图：

　　为使现场之品质状况达成吾人所谓之“管理”作业，一般均以侦测产品之

　　品质特性来替代“管理”作业是否正常，而品质特性是随着时间、各种状况有着高低的变化；那么到底高到何种程度或低至何种状况才算吾人所谓异常？故设定一合理之高低界限，作为吾人探测现场制程状况是否在“管理”状态，即为管制图之基本根源。

　　管制图是于1924年由美国品管大师修哈特博士所发明。而主要主义即是【一种以实际产品品质特性与依过去经验所研判之制程之能力的管制界限比较，而以时间顺序用图形表示者】。

　　（2）基本特性：

　　一般管制图纵轴均设定为产品的品质特性，而以制程变化的数据为分度；横轴则为检测制品之群体代码或编号或年月日等，以时间别或制造先后别，依顺序将点绘于图上。

　　在管制图上有三条笔直的横线，中间的一条为中心线（CenterLine，CL），一般以蓝色之实线绘制。左上方的一条称为管制上限（UpperControlLimit，UCL），在下方的称为管制下限（LowerControlLimit，LCL），对上、下管制界限之绘制，则一般均用红色之虚线表现之，以表示可接受之变异范围；至于实际产品品质特性之点连线条则大都以黑色实线表现绘制之。

　　（3）管制图原理：

　　1）品质变异之形成原因

　　一般在制造的过程中，无论是多么精密的设备，环境，其品质特性一定都会有变动，绝无法做完全一样的制品；而引起变动的原因可分为两种，一种为偶然（机遇）原因，一种为异常（非机遇）原因。

　　2）管制图界限之构成：

　　管制图是以常分配中之三个标准差为理论依据，中心线为平均值，上、下管制界限以平均数加减三个标准差（±3σ）之值，以判断制程中是否有问题发生，此即修哈特博士所创之法。

　　（4）管制图种类：

　　1）依数据性质分类：

　　A计量值管制图：所谓计量值系指管制图之数据均属于由量具实际量测而得；如长度、重量、浓度等特性均为连续性者。常用的有：

　　a平均数与全距管制图（X(—)-RChart）

　　b平均数与标准差管制图（X(—)-σChart）

　　c中位数与全距管制图（X(~)-RChart）

　　d个别值与移动全距管制图（X-RmChart）

　　e最大值与最小值管制图（L-SChart）

　　B计数值管制图：所谓计数值是指管制图之数据均属于单位计算数者而得；如不良数、缺点数等间断性数据均属之。常用的有：

　　a不良率管制图（PChart）

　　b不良数管制图（Pnchart，又称npchart或dchart）

　　c缺点数管制图（Cchart）

　　d单位缺点数管制图（Uchart）

　　2）计数值与计量值管制图之应用比较

　　计量值

　　计数值

　　优点

　　1、甚灵敏，容易调查真因。

　　2、可及时反应不良，使品质稳定。

　　1、所须数据可用简单方法获得。

　　2、对整体品质状况之了解较方便。

　　缺点

　　1、抽样频度较高、费时麻烦。

　　2、数据须测定，且再计算，须有训练之人方可胜任。

　　1、无法寻得不良之真因。

　　2、及时性不足，易延误时机。

　　（5）管制图之绘制：

　　介绍：计量值管制图（X-R）常用

　　1）先行收集100个以上数据，依测定之先后顺序排列之。

　　2）以2~5个数据为一组（一般采4~5个），分成约20-25组。

　　3）将各组数据记入数据表栏位内。

　　4）计算各组之平均值X。（取至测定值最小单位下一位数） www.56qiuzhi.com

　　5）计算各组之全距R。（最大值-最小值=R）

　　6）计算总平均X。

　　X=（X1+X2+X3+…+Xk）/k=ξXi/k（k为组数）

　　7）计算全距之平均R：

　　R=（R1+R2+R3+…+Rk）/k=ξRi/k

　　8）计算管制界限

　　X管制图：中心线（CL）=X

　　管制上限（UCL）=X+A2R

　　管制下限（LCL）=X-A2R

　　R管制图：中心线（CL）=R

　　管制上限（UCL）=D4R

　　管制下限（LCL）=D3R

　　A2，D3，D4之值，随每组之样本数不同而有差异，但仍遵循三个标准差之原理，计算而得，今已被整理成常用系数表。

　　9）绘制中心线及管制界限，并将各点点入图中。

　　10）将各数据履历及特殊原因记入，以备查考、分析、判断。

　　（6）管制点之点绘制要领：

　　1）各项工程名称、管制特性、测定单位、设备别、操作（测定）者、样本大小、材料别、环境变化…等任何变更资料应清楚填入，以便资料之分析整理。

　　2）计量值变更管制图（X-R，X-R…等）其X管制图与R管制图的管制界限席宽度取法，一般原则以组之样本数（n）为参考，X管制图之单位分度约为R管制图之1/n倍。

　　（纵轴管制界限宽度约20-30m/m；横轴各组间隔约2-5mm）

　　3）中心线（CL）以实线记入，管制界限则记入虚线；各线上须依线别分别记入CL、UCL、LCL、等符号。

　　4）CL、UCL、LCL之数值位数计算比测定值多两位数即可。

　　（各组数据之平均计算数则取比测定值多一位数）

　　5）点之绘制有[·]、[○]、[△]、[×]…等，最好由厂内统一规定。

　　6）变管制图，二个管制图之绘制间隔最少距20mm以上，可行的话最好距30mm左右。

　　（7）管制图之判读：

　　1）管制状态之判断（制程于稳定状态）

　　A多数点子集中在中心线附近。

　　B少数点子落在管制界限附近。

　　C点子之分布与跳动呈随机状态，无规则可循。

　　D无点子超出管制界限以外。

　　2）可否延长管制限界限做为后续制程管制用之研判基准：

　　A连续25点以上出现在管制界限线内时（机率为93.46%）。

　　B连续35点中，出现在管制界限外点子不超出1点时。

　　C连续100点中，出现在管制界限外点子不超出2点时。

　　制程在满足上述条件时，虽可认为制程在管制状态而不予变动管制界限，但并非点子超出管制界限外亦可接受；这此超限之点子必有异常原因，故应追究调查原因并予以消除之。

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